Search engine for discovering works of Art, research articles, and books related to Art and Culture
ShareThis
Javascript must be enabled to continue!

Etude de la fiabilité de modules à base de LEDs blanches pour applications automobile

View through CrossRef
Les composants dédiés et actuellement disponibles pour le marché automobileprésentent une grande diversité technologique tant au niveau puce que stratégie de packaging ouencore architecture module (mono-puce ou multi-puce) pour des performances équivalentes. Cetteétude s’est attachée à développer une méthodologie d’évaluation de la fiabilité de deux filièrestechnologiques particulières de modules de LEDs multi-puce : l’une intègre une technologie verticale(VTF pour Vertical Thin Film) tandis que la seconde est focalisée sur une structure par puce montéeretournée(TFFC pour Thin Film Flip Chip). La méthodologie s’articule autour de trois principaux axes:· La connaissance des structures et le développement de modèles électro-optiques et thermiquesmulti-puce permettant d’extraire les paramètres clés à suivre au travers d’un panel varié detechniques d’analyse physique et non-destructives incluant les aspects électriques, optiques,thermiques….· Une analyse comportementale de robustesse par paliers afin de dégager les margesopérationnelles de fonctionnement ainsi que les modes et les signatures caractéristiques dedéfaillance.· Une étude de fiabilité conduite à partir de différents régimes de contraintes accélérées pourestimer les durées de vie moyennes de ces nouveaux composants en environnement automobileet l’impact au niveau système.Les résultats mettent en évidence une durée de vie très dépendante de la filière technologique(facteur 6 entre les deux filières étudiées). Les analyses de défaillance ont permis d’identifierprécisément les comportements de ces nouvelles sources d’éclairage pour dégager des indicateursprécoces de défaillance. Enfin, des préconisations ont été extraites afin de fiabiliser les futursprojecteurs à sources LEDs de puissance pour les applications en automobile.
Agence Bibliographique de l'Enseignement Supérieur
Title: Etude de la fiabilité de modules à base de LEDs blanches pour applications automobile
Description:
Les composants dédiés et actuellement disponibles pour le marché automobileprésentent une grande diversité technologique tant au niveau puce que stratégie de packaging ouencore architecture module (mono-puce ou multi-puce) pour des performances équivalentes.
Cetteétude s’est attachée à développer une méthodologie d’évaluation de la fiabilité de deux filièrestechnologiques particulières de modules de LEDs multi-puce : l’une intègre une technologie verticale(VTF pour Vertical Thin Film) tandis que la seconde est focalisée sur une structure par puce montéeretournée(TFFC pour Thin Film Flip Chip).
La méthodologie s’articule autour de trois principaux axes:· La connaissance des structures et le développement de modèles électro-optiques et thermiquesmulti-puce permettant d’extraire les paramètres clés à suivre au travers d’un panel varié detechniques d’analyse physique et non-destructives incluant les aspects électriques, optiques,thermiques….
· Une analyse comportementale de robustesse par paliers afin de dégager les margesopérationnelles de fonctionnement ainsi que les modes et les signatures caractéristiques dedéfaillance.
· Une étude de fiabilité conduite à partir de différents régimes de contraintes accélérées pourestimer les durées de vie moyennes de ces nouveaux composants en environnement automobileet l’impact au niveau système.
Les résultats mettent en évidence une durée de vie très dépendante de la filière technologique(facteur 6 entre les deux filières étudiées).
Les analyses de défaillance ont permis d’identifierprécisément les comportements de ces nouvelles sources d’éclairage pour dégager des indicateursprécoces de défaillance.
Enfin, des préconisations ont été extraites afin de fiabiliser les futursprojecteurs à sources LEDs de puissance pour les applications en automobile.

Related Results

REGULAR ARTICLES
REGULAR ARTICLES
L. Cowen and C. J. Schwarz       657Les Radio‐tags, en raison de leur détectabilitéélevée, ...
Characterization, modeling and aging behavior of GaN power transistors
Characterization, modeling and aging behavior of GaN power transistors
Caractérisation, Modélisation et Comportement au vieillissement de transistors GaN Les besoins de villes durables, la réduction de l'effet de serre et la recherche ...
Elaboration et propriétés de nanofils à base d'InGaN pour la réalisation de micro et nanoLEDs
Elaboration et propriétés de nanofils à base d'InGaN pour la réalisation de micro et nanoLEDs
Les semiconducteurs III-N, incluant le GaN, l’AlN, l’InN et leurs alliages, font l’objet d’un intérêt grandissant pour le développement de dispositifs optoélectroniques. Leur gap d...
Trust evaluation for stream data services based on data quality and service performance
Trust evaluation for stream data services based on data quality and service performance
Évaluation de la fiabilité des services de flux données en se basant sur la qualité de données et la performance du service Ces dernières années ont été marquées pa...
Transition from conventional to light‐emitting diode street lighting changes activity of urban bats
Transition from conventional to light‐emitting diode street lighting changes activity of urban bats
Summary Light pollution is rapidly increasing and can have deleterious effects on biodiversity, yet light types differ in their effect on wildlife. Among the light types used for...
Emergence of Nanoplatelet Light-Emitting Diodes
Emergence of Nanoplatelet Light-Emitting Diodes
Since 2014, nanoplatelet light-emitting diodes (NPL-LEDs) have been emerged as a new kind of LEDs. At first, NPL-LEDs are mainly realized by CdSe based NPLs. Since 2016, hybrid org...
Hardening basic blocks in a mesh of clusters FPGA
Hardening basic blocks in a mesh of clusters FPGA
Durcissement de circuits logiques reconfigurables Avec les réductions d'échelle, les circuits électroniques deviennent de plus en plus petits, plus performants, con...
Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors MOS en Radio Fréquence
Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors MOS en Radio Fréquence
Les produits issus des technologies Silicium tendent à exploiter au maximum les performancesdes transistors MOS tout en les soumettant à des profils de mission très agressifs du po...

Back to Top