Fourier‐Analyse des elektrischen Mikrofeldes in einem Plasma. II

AbstractIn einer ersten Mitteilung wurde eine Fourier ‐ Analyse des zeitlichen Verlaufs einer beliebigen Komponente des elektrischen Mikrofeldes in einem Plasma durchgeführt. Dabei wurde von der Coulomb ‐ Wechselwirkung der geladenen Teilchen des Plasmas abgesehen, ihre Bewegung also als gleichförmig und geradlinig betrachtet. Da diese Annahme bei größerer Dichte der geladenen Teilchen nicht mehr zulässig ist, wird hier die Wirkung der stark gekrümmten Teile der Elektronenbahnen auf das Frequenzspektrum untersucht. Es ergibt sich, daß diese Bahnteile hauptsächlich Beiträge zu den höchsten Frequenzen liefern. Für die Wahrscheinlichkeit der Fourier‐Amplituden der Feldstärke ergibt sich auch hier eine Gauß ‐ Verteilung, die für hohe Frequenzen gegenüber der in I gefundenen nach größeren Amplituden verschoben ist.