Phương pháp điều khiển và phân tích lỗi hở mạch trên bộ nghịch lưu một pha hình T

Bài báo này trình bày một phương pháp điều chế độ rộng xung để điều khiển bộ nghịch lưu một pha cấu hình T (T-1F) khi gặp lỗi hở mạch ở nhánh T. Bộ nghịch lưu đa bậc thường được sử dụng rộng rãi trong các hệ thống biến đổi công suất trung bình và lớn nhờ những ưu điểm vượt trội so với các bộ nghịch lưu thông thường. Ngoài việc giảm mức điện áp cao đặt lên linh kiện, bộ nghịch lưu đa bậc còn có khả năng giảm chỉ số sóng hài thấp hơn nhờ phương pháp điều khiển độ rộng xung. Trong số các cấu hình nghịch lưu đa bậc phổ biến như nghịch lưu cascade và nghịch lưu NPC, bộ nghịch lưu cấu hình T đang được nghiên cứu với nhiều ưu điểm như giảm sóng hài (THD) và giảm điện áp common-mode (CMV). Bài báo này khảo sát chất lượng sóng hài điện áp, dòng điện và tổn hao trên linh kiện bán dẫn của bộ nghịch lưu T-1F. Phương pháp điều chế độ rộng xung được đề xuất (T-Pr) dựa vào nguyên lý hoạt động đối nghịch của các khóa IGBT trên bộ nghịch lưu T-1F. Kết quả phân tích sẽ được đánh giá thông qua mô phỏng bằng phần mềm MATLAB/SIMULINK. Kết quả mô phỏng của phương pháp điều chế độ rộng xung đề xuất cho bộ nghịch lưu T-1F sẽ được so sánh với các kỹ thuật điều khiển độ rộng xung thông thường. Ngoài ra, Để đánh giá tổn hao của bộ nghịch lưu T-1F phần mềm PLECS được sử dụng. Đánh giá kết quả thu được khẳng định ưu điểm của phương pháp T-Pr đề xuất trên cấu hình bộ nghịch lưu T-1F.