Implementación del método de identificación de “estructura cristalina parcial o no conocida” “PONKCS”, por difracción de Rayos X para la determinación del contenido de puzolana en cementos adicionados

Con el objetivo de explorar metodologías innovadoras que faciliten la obtención de información sobre la calidad del cemento, se implementó el método de identificación de “Estructura cristalina parcial o desconocida” (PONKCS) por difracción de rayos X para determinar el contenido de puzolana, o materiales puzolánicos, siendo este un material compuesto por una parte amorfa de difícil cuantificación, cuarzo y otros minerales asociados, para lo cual se realizó una correlación lineal entre el contenido de puzolana y la determinación del contenido de residuo insoluble (IR). Es importante tener en cuenta que este es un método semicuantitativo y es necesario tener muestras de la puzolana utilizada en los cementos que se analizan. Este proyecto es el inicio del uso de la difracción de rayos X (XRD) como herramienta para predecir rápidamente el comportamiento químico y físico de los cementos agregados en Guatemala.